СТАТЬИ
1. Chernov I., Ivashko E., Rumiantsev A., Ponomarev V., Shabaev A. Survey on Deduplication Techniques in Flash-Based Storage // Proceedings of the FRUCT’22. Jyvaskyla, Finland, 15-18 May 2018 FRUCT Oy, Finland, ISSN 2305-7254, ISBN 978-952-68653-4-8, p. 25-33 https://ieeexplore.ieee.org/document/8468295
2. Беляев М.А., Путролайнен В.В., Романенко В.А. Моделирование деформации многокристальных сборок NAND-памяти // Письма в ЖТФ, 2018, том 44, вып. 20 https://journals.ioffe.ru/articles/46804
англ. вариант –
M.A. Belyaev, V.V. Putrolaynen, V.A. Romanenko, Modeling Deformations in Multichip Packages of NAND Memory // Technical Physics Letters, 2018, Vol. 44, No. 10, pp. 919–922 https://link.springer.com/article/10.1134/S1063785018100176
3. Valentin Perminov, Vadim Putrolaynen, Maksim Belyaev, Elena Pasko, Kirill Balashkov, Automated image analysis for evaluation of wafer backside chipping // The International Journal of Advanced Manufacturing Technology https://doi.org/10.1007/s00170-018-2647-9
Публикации, индексируемые РИНЦ (не индексируемые WoS, Scopus):
4. Путролайнен В.В., Подрядчиков С.Ф. Многокристальное корпусирование и тестирование микросхем NAND памяти // Цифровые технологии в образовании, науке, обществе: Материалы XII всероссийской науч.-практ. конф., с 189-193. Петрозаводск, 2018. https://it2018.petrsu.ru/doc/it2018.pdf
Ссылки на сайты публикаций, а также индексации журналов в базах данных Scopus и WEB of Science
Survey on Deduplication Techniques in Flash-Based Storage https://ieeexplore.ieee.org/document/8468295
Текст статьи на сайте 22 международной конференции Ассоциации открытых инноваций FRUCT https://fruct.org/publications/fruct22/files/Che.pdf
Survey on Deduplication Techniques in Flash-Based Storage базе данных Scopus https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85055542812&origin=resultslist&sort=plf-f&src=s&st1=RFMEFI58017X0009&st2=&sid=70929387d955c8dea428c4e9f80f0bab&sot=b&sdt=b&sl=26&s=FUND-ALL%28RFMEFI58017X0009%29&relpos=1&citeCnt=0&searchTerm=
Моделирование деформации многокристальных сборок NAND-памяти
https://journals.ioffe.ru/articles/46804
https://link.springer.com/article/10.1134/S1063785018100176
Automated image analysis for evaluation of wafer backside chipping
Патентные заявки, поданные по результатам исследований и разработок:
1. Заявка на полезную модель "Зажимное устройство для полимеризации компаунда" авторы Беляев Максим Александрович, Путролайнен Вадим Вячеславович, Разводов Игорь Геннадьевич, Мелентьев Василий Васильевич, дата поступления (дата приоритета) 26.04.2018, входящий № 024823, регистрационный № 2018115933
2. Заявка на полезную модель "Устройство крепления кристаллов для утонения" авторы Путролайнен Вадим Вячеславович, Беляев Максим Александрович, Балашков Кирилл Евгеньевич, дата поступления (дата приоритета) 30.05.2018, входящий № 013186, регистрационный № 2018120050
3. Заявка о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2018615571, Программа для измерения размеров сколов с обратной стороны кремниевых пластин «Backside Chipping 1.0», авторы Перминов Валентин Валерьевич, Путролайнен Вадим Вячеславович,Беляев Максим Александрович, дата поступления 30.05.2018
4. Заявка о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2018617388, Программа для автоматизированного комплекса функционального тестирования промышленных образцов интегральных микросхем памяти на соответствие стандарту ONFi «NAND Flash Memory Tester», авторы Табачник Игорь Ефимович, Чувствин Михаил Борисович, Подрядчиков Сергей Федорович, Путролайнен Вадим Вячеславович, дата поступления 16.07.2018
Полученные результаты интеллектуальной деятельности:
1. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2018660544, Программа для измерения размеров сколов с обратной стороны кремниевых пластин «Backside Chipping 1.0» авторы: Перминов Валентин Валерьевич, Путролайнен Вадим Вячеславович, Беляев Максим Александрович, дата регистрации 24.07.2018 http://www1.fips.ru/fips_servl/fips_servlet?DB=EVM&DocNumber=2018618977&TypeFile=html
2. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2018660544, Программа для автоматизированного комплекса функционального тестирования промышленных образцов интегральных микросхем памяти на соответствие стандарту ONFi «NAND Flash Memory Tester» авторы Табачник Игорь Ефимович, Чувствин Михаил Борисович, Подрядчиков Сергей Федорович, Путролайнен Вадим Вячеславович, дата регистрации 23.08.2018 http://www1.fips.ru/fips_servl/fips_servlet?DB=EVM&DocNumber=2018660544&TypeFile=html
3. Патент на полезную модель № 183099 "Устройство крепления кристаллов для утонения" авторы Путролайнен Вадим Вячеславович, Беляев Максим Александрович, Балашков Кирилл Евгеньевич, дата приоритета 30.05.2018, дата регистрации 11.09.2018 http://www1.fips.ru/fips_servl/fips_servlet?DB=RUPM&DocNumber=185620&TypeFile=html
4. Патент на полезную модель № 185620 " Зажимное устройство для стопки подложек, покрытых слоем компаунда, размещаемой в печи для полимеризации" авторы Путролайнен Вадим Вячеславович, Разводов Игорь Геннадьевич, Беляев Максим Александрович, Мелентьев Василий Васильевич, дата приоритета 26.04.2018, дата регистрации 12.12.2018 http://www1.fips.ru/fips_servl/fips_servlet?DB=RUPM&DocNumber=185620&TypeFile=html
-
Роль индустриального партнера в процессе реализации комплексных проектов ФЦП.
С 2017 года ПетрГУ в консорциуме с АО «Джи Эс Нанотех» и ООО «Опти-Софт» реализуют проект «Создание твердотельных систем хранения данных с использованием интегральных микросхем высокой степени интеграции, произведенных по технологиям трехмерного многокристального корпусирования». И настоящей статье представлена информация о важности правильного выбора индустриального партнёра в целях успешной реализации проекта.